Scanner image methodology (SIM) to measure dimensions of leaves for agronomical applications
A. Femat-Diaz*, D. Vargas-Vazquez, E. Huerta-Manzanilla, E. Rico-Garcia and G. Herrera-Ruiz
Universidad Autónoma de Querétaro, Facultad de Ingeniería, División de Estudios de Posgrado, Cerro de las Campanas s/n, 76010, Querétaro, Qro., México.
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